Mentor Graphics Design-For-Test(DFT) 2006.3.10 可测性设计

在将具有竞争性、不同凡响的产品推向市场的设计过程中，可测性设计日益变得重要起来。从没有“放之四海皆准”的测试方案，这就是为什么Mentor Graphics推出广泛的DFT工具的原因。这些世界领先的工具缩短了设计开发时间，并保证更高质量。所有这些都比现在其它任何DFT工具的风险小。我们的DFT服务队伍会帮助你轻松地进行测试点插入，测试矢量生成和故障仿真，保证在你的设计限制范围内达到最高的测试覆盖率。 Comprehensive DFT Solution for SOC Designs DFT process in ASIC design flow DFT(Design-For-Test)是Mentor Graphics公司的黄金产品，该产品在近三年来一直独居技术、市场世界第一。该产品之所以具有如此的地位，关键在于以下两方面: ASIC设计师公认测试、综合在ASIC设计中同等重要；Mentor Graphics有着高水平研发队伍，总能使自己超前发展。如图所示为一个完整的测试解决方案，这样的解决方案包含边界扫描设计(Boardary Scan)，内部全扫描(Full Scan)或部分扫描设计(Partial Scan)，自动测试向量生成(ATPG)，存储器内建自测试(Memory BIST)，以及逻辑内建自测试(Logic BIST)的设计技术。测试是非常复杂的问题，Mentor Graphics公司主张不同类型的测试问题，应选用不同的工具去解决。这样方能保证精确有效的测试结果。 [img]http://cn.sun.com/isv/solutions/images/mentor-2_01.gif[/img] [img]http://cn.sun.com/isv/solutions/images/mentor-2_02.gif[/img] 确保设计能于制造后正确工作 DFT工具为设计的可测性增加了设计电路（RTL或者gate level） DFT工具为投入生产的设计生成测试组来检测其缺陷 基于DFT结果进行失效分析 [img]http://www.mentorg.com.cn/images/products/test_Insert.gif[/img]
product:Mentor Graphics Design-For-Test(DFT) 2006.3.10 可测性设计
Lanaguage:English
Platform:/Linux
Size:197MB